Profesjonalny profiler powierzchni igły
Profesjonalny profiler powierzchni z igłą to precyzyjny instrument pomiarowy zaprojektowany do precyzyjnej analizy chropowatości powierzchni i profilu komponentów przemysłowych. Professional Stylus Surface Profiler wykorzystuje czujnik diamentowego rysika do śledzenia zmian mikropowierzchni z wyjątkową rozdzielczością, przekształcając fizyczną fakturę powierzchni w precyzyjne dane cyfrowe. Profesjonalny Stylus Surface Profiler jest idealny do zastosowań wymagających rygorystycznej oceny jakości powierzchni i powtarzalnej dokładności pomiarów we współczesnych środowiskach produkcyjnych.
- Pomiar: Technologia profilowania sond
- Czujnik sondy: Czujnik niskiej bezwładności (LIS3)
- Ciśnienie sondy: Używając czujnika LIS3: od 1 do 15 mg
- Przykładowy widok: Wybieralne powiększenie, pole widzenia od 1 do 4 mm
Opis produktu
Professional Stylus Surface Profiler integruje zaawansowaną technologię pomiarową ze stabilną i przyjazną dla użytkownika platformą, zapewniając precyzyjną charakterystykę powierzchni dla nowoczesnych laboratoriów i środowisk produkcyjnych. Zapewnia doskonałą dokładność, niezawodną powtarzalność i efektywną pracę, co czyni go odpowiednim zarówno do badań naukowych, jak i przemysłowych zastosowań kontroli jakości.
System ten zaprojektowany do analizy powierzchni w wysokiej rozdzielczości obsługuje nanoskalową chropowatość, wysokość kroków oraz pomiar topografii 3D. Jest szeroko stosowany w mikroelektronice, półprzewodnikach, produkcji wyświetlaczy, energii słonecznej, urządzeniach medycznych oraz zaawansowanych badaniach materiałowych, pomagając użytkownikom osiągnąć najwyższą kontrolę procesów od badań i rozwoju po ostateczną inspekcję.
Profesjonalny Stylus Surface Profiler – pomiar wysokości stopnia i chropowatości powierzchni na poziomie nanometrów
Professional Stylus Surface Profiler to precyzyjny system pomiaru kontaktowego zaprojektowany do dokładnej analizy wysokości stopnia, chropowatości powierzchni oraz trójwymiarowej topografii powierzchni. Używając rylusa diamentowego, który delikatnie śledzi powierzchnię próbki, rejestruje drobne zmiany powierzchni z wyjątkową rozdzielczością i stabilnością. Zapewnia to bardzo wiarygodne i powtarzalne wyniki pomiarów dla wymagających zastosowań przemysłowych i laboratoryjnych.
Jak to działa
System działa na podstawie metody pomiaru kontaktowego. W miarę jak igła przesuwa się po powierzchni, jej pionowe przemieszczenie odzwierciedla kontury powierzchni. Ten ruch jest rejestrowany jako sygnał elektryczny przez mostek pomiarowy, generując amplitudowo modulowane wyjście proporcjonalne do pionowego przemieszczenia. Sygnał jest następnie wzmacniany, przetwarzany przez prostowanie fazowe i filtrowany, aby usunąć szum i falowanie. Zapewnia to, że końcowy sygnał jest czysty i stabilny, zapewniając dokładne pomiary wysokości kroku i chropowatości wolne od zewnętrznych zakłóceń i falowania.
Kluczowe zastosowania
- Metrologia płytek półprzewodnikowych: Precyzyjne pomiary i analiza płytki półprzewodnikowych w celu zapewnienia wysokiej jakości wyrobu.
- MEMS i mikrostruktury: Dokładne profilowanie MEMS (mikro-elektromechanicznych systemów) i mikrostruktur do szczegółowych pomiarów powierzchni.
- Cienka warstwa i grubość powłoki: Ocena grubości i jednolitości cienkich warstw i powłok, kluczowych dla różnych procesów produkcyjnych.
- Profilowanie powierzchni ogniw słonecznych: Dokładne pomiary powierzchni ogniw słonecznych, optymalizujące wydajność i jakość produkcji.
- Precyzyjna optyka i urządzenia medyczne: Pomiar precyzyjnej optyki i urządzeń medycznych w celu utrzymania wysokich standardów jakości i wydajności.
Kluczowe cechy
- Stabilna wydajność: Zapewnia spójną pracę dzięki szybkiej skrzyni biegów, automatycznej kalibracji i dokładnemu pomiarowi.
- Rewolucyjny projekt pulpitów: Osiąga równowagę między wysoką wydajnością, łatwością obsługi i opłacalnością w kompaktowym zestawie stołowym.
- Kompaktowy i niezawodny projekt: Zoptymalizowana konfiguracja sprzętowa zapewnia wysoką dokładność testów, stabilność i efektywność.
- Doskonałe materiały i trwałość: Wykonane z wysokiej jakości materiałów, aby zapewnić trwałość, długą żywotność i efektywną wydajność.
Wyposażenie
- Niezrównane osiągi: Wysokość kroków jest powtarzalna poniżej 4A, z ulepszonymi możliwościami skanowania.
- Konstrukcja z pojedynczym łukiem: Zapewnia przełomową stabilność, minimalizując zakłócenia szumów otoczenia i umożliwiając szeroki zakres pionowy dzięki skanowaniu o niskiej sile.
- Ulepszona inteligentna elektronika: Redukuje szum i zwiększa dokładność pomiaru, umożliwiając pomiar wysokości kroków poniżej 10nm.
- Zoptymalizowana konfiguracja sprzętowa: Skraca czas pozyskiwania danych o 40%, poprawiając efektywność pomiarów.
- 64-bitowe oprogramowanie synchroniczne Vision64: Przyspiesza przetwarzanie danych, zwiększając szybkość analizy danych dziesięciokrotnie.
- Intuicyjny interfejs użytkownika: Oprogramowanie Vision64 oferuje uprostroniony, przyjazny dla użytkownika interfejs ułatwiający konfigurację i analizę.
- Automatyczny system wyrównywania końcówek: Upraszcza zmiany sondy dzięki samowyrównującemu się montażowi sondy, zmniejszając ryzyko podczas przejścia.
- Szeroki zakres modeli sond: Oferuje różne rozmiary i kształty sond, zapewniając kompatybilność niemal z każdym zastosowaniem.
- Konstrukcja pojedynczego sensora: Dostarcza pomiary przy niskiej sile przy szerokim zakresie skanowania na jednej płaszczyźnie.
- Testowanie o wysokiej przepustowości: Zapewnia szybkie, wielopróbkowe testy precyzyjne pomiary cienkiej warstwy o wyższej powtarzalności.
Parametry techniczne
| Technologia pomiarowa | Technologia profilowania sond |
| Funkcja pomiarowa | Dwuwymiarowy pomiar profilu powierzchniowego |
| Opcjonalne pomiary 3D/ | |
| Przykładowy widok | Wybieralne powiększenie, pole widzenia od 1 do 4 mm |
| Czujnik sondy | Czujnik niskiej bezwładności (LIS3) |
| Ciśnienie sondy | Używając czujnika LIS3: od 1 do 15 mg |
| Niska siła (opcjonalnie) | Używanie czujnika niskiego nacisku N-Lite: 0,03 do 15mg |
| Opcje sond | Zakres wyboru promienia krzywizny sondy: od 50 nm do 25μm; |
| Stosunek wysokości do średnicy (HAR): 10μm*2μm i 200μm*20μm; | |
| Indywidualne wskazówki są dostępne na życzenie. | |
| Przykładowy etap X/Y | Ręczne tłumaczenie X-Y: 100mm (4 cale) |
| Zmotoryzowane tłumaczenie X-Y: 150 mm (6 cali) | |
| Próbkowy etap obrotowy | Manualny, obrót 360°; |
| Silnik: obrót 360°; | |
| System komputerowy | 64-bitowy wielordzeniowy procesor liniowy, Windows* 7.0; Opcjonalny 23-calowy wyświetlacz płaski |
| Oprogramowanie | Oprogramowanie do obsługi i analizy Vision64; |
| Oprogramowanie do pomiaru naprężeń: wygięcie wspornika; | |
| Oprogramowanie do szycia: Oprogramowanie do obrazowania 3D | |
| Urządzenie tłumiące drgania | Dostępne tłumienie uderzeniowe |
| Zakres długości skanowania | 55mm (2 cale) |
| Punkty danych na skan | Do 120 000 punktów danych |
| Maksymalna grubość próbki | 50mm (2 cale) |
| Maksymalny rozmiar płytki | 200mm (8 cali) |
| Powtarzalność wysokości kroku | <4A1σ na kroku 1μm |
| Zakres pionowy | 1 mm (0,039 cala) |
| Rozdzielczość pionowa | Maksymalna prędkość 1A (w zakresie pionowym 6,55 μm) |
| Napięcie wejściowe | 100 - 240 VAC, 50 - 60Hz |
| Zakres temperatur | Zakres pracy od 20 do 25°C (68 do 77°F) |
| Zakres wilgotności | ≤80%, Niekondensujące |
| Rozmiar i masa systemu | 455mm W x 550mm D x 370mm H |
| (179 cali szerokości x 22,6 cala Wymiar x 14,5 cala. H); | |
| 34 kg (75 lbs); | |
| Mocowanie: 550mm długości x 585mm szerokości x 445mm średnicy (216 cali). Długość x 23 cale. Szerokość x 175 cali. H); | |
| 217 kg (48 lbs) |
Zastosowania
- Testowanie cienkimi warstwami – zapewnienie wysokiej wydajności:
W produkcji półprzewodników instrument Step pomaga monitorować jednolitość osadzania i trawienia, naprężenia cienkiej warstwy oraz grubość cienkiej warstwy ITO. Jego wysoka powtarzalność zapewnia dokładne pomiary, optymalizując trawienie i osadzanie dla lepszych wydajności. - Inspekcja chropowatości powierzchni – zapewnienie wydajności:
Idealne do oceny chropowatości powierzchni precyzyjnych komponentów w branżach takich jak motoryzacja, lotnictwo i urządzenia medyczne. Na przykład mierzy chropowatość powłok ortopedycznych, aby zapewnić jakość i przyczepność produktu. - Analiza linii sieci słonecznej – obniżenie kosztów produkcji:
Idealne do pomiaru wymiarów przewodzących srebrnych linii siatkowych na panelach słonecznych. Instrument krokowy zapewnia, że zużycie srebra jest zoptymalizowane dla lepszej przewodności, co przyczynia się do oszczędności kosztów produkcji paneli słonecznych. - Technologia mikrofluidyki – wykrywanie, projektowanie i wydajność:
Wykorzystywane w technologii MEMS i mikrofluidyki do testów kwalifikacyjnych. Funkcja pomiaru NLite przy niskiej sile pozwala na precyzyjne wykrywanie pionowych kroków i chropowatości na materiałach światłoczułych, zapewniając dokładność i wydajność projektowania.
Zacznij od swoich rozwiązań już dziś!
Niezależnie od tego, czy szukasz wysokowydajnych maszyn CNC, czy niezawodnych maszyn manualnych, oferujemy rozwiązania dostosowane do Twoich indywidualnych potrzeb.
Skontaktuj się z nami już dziś, aby omówić swoje potrzeby i uzyskać fachową poradę. Pozwól nam pomóc Ci zoptymalizować procesy produkcyjne!
Nasze zalety
Wspierany ponad 25-letnim doświadczeniem inżynieryjnym, nasz zespół oferuje kompleksowe usługi — od projektowania form na zamówienie i precyzyjnej obróbki po produkcję na pełną skalę — wspierane przez solidny system kontroli jakości i proaktywną obsługę klienta. Certyfikowani według ISO9001, ISO14001 oraz IATF 16949, nieustannie dążymy do doskonałości w jakości, innowacjach i satysfakcji klienta.
Precyzja tolerancji do ±0,002mm
Wybrane autentyczne składniki: 1 kawałek odpowiada 5 kawałkom
Przetwarzanie wsadowe i personalizacja na podstawie rysunków, darmowe próbkowanie.
Zakres zastosowań
Preferowany wybór w różnych branżach.
